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结构化照明超高分辨率显微成像系统(Nikon A1+ + N-SIM)

主要规格及技术指标:

1. 激光器:405nm, 445nm, 488nm, 561nm, 594nm;

2. 显微镜:全电动倒置荧光显微镜;

3. 物镜:10×, 20×, 40×, 60×(water), 100×(oil);

4. 探测器:4个荧光探测器(其中两个为GaAsP PMT探测器,两个标准PMT探测器);1个光谱探测器(400-720nm);1个透射光探测器;

5. 最大扫描速度:512 × 512分辨率下:10 frame/sec;

6. 最高扫描分辨率:4096 × 4096;

7. 超分辨SIM成像:XY分辨率115nm; Z轴分辨率269nm;

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