结构化照明超高分辨率显微成像系统（Nikon A1+ + N-SIM）

主要规格及技术指标：

1. 激光器：405nm, 445nm, 488nm, 561nm, 594nm;

2. 显微镜：全电动倒置荧光显微镜；

3. 物镜：10×, 20×, 40×, 60×(water), 100×(oil);

4. 探测器：4个荧光探测器（其中两个为GaAsP PMT探测器，两个标准PMT探测器）；1个光谱探测器（400-720nm）；1个透射光探测器；

5. 最大扫描速度：512 × 512分辨率下：10 frame/sec；

6. 最高扫描分辨率：4096 × 4096;

7. 超分辨SIM成像：XY分辨率115nm; Z轴分辨率269nm;